奧林巴斯BX53M金相顯微鏡主要特點(diǎn)：

可實(shí)現(xiàn)明場(chǎng)、暗場(chǎng)、微分干涉、熒光、偏光、紅外等多種觀察方式。

 反射光和透射光照明提供了高強(qiáng)度的白光LED光源。

 具有ESD靜電消除能力，防止受到靜電放電的影響。

 根據(jù)工業(yè)和材料學(xué)的不同應(yīng)用，可以組合成反射顯微鏡、透反射顯微鏡、紅外顯微鏡、偏光顯微鏡等多種應(yīng)用的顯微鏡。

 采用了新的編碼功能，將顯微鏡的硬件設(shè)置與奧林巴斯Stream圖像分析軟件整合在一起，觀察方法、照明強(qiáng)度和物鏡位置全部記錄在軟件或手動(dòng)控制器里。

產(chǎn)品名稱(chēng): BX53M金相顯微鏡

完全系統(tǒng)化


• 模塊化的設(shè)計(jì)能夠?qū)崿F(xiàn)多種配置，以滿足用戶(hù)的各種要求。



LED照明


• BX53M為反射光和透射光照明提供了高強(qiáng)度的白光LED光源。無(wú)論強(qiáng)度是，LED都保持著一致的色溫。LED提供了高效而長(zhǎng)壽命的照明，是材料學(xué)檢測(cè)應(yīng)用的理想工具。



用于材料學(xué)的配置



• BX53M反射和反射/透射觀察

• BX3M系列有兩種顯微鏡機(jī)架，一種僅用于反射光，一種用于反射光和透射光組合。兩種機(jī)架都可配置手動(dòng)、編碼或電動(dòng)部件，并且都配備有ESD防靜電功能。




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• BX53M IR觀察

• IR物鏡可用于透過(guò)硅材料成像，進(jìn)行半導(dǎo)體檢查和測(cè)量。配備了5倍到100倍紅外（IR）物鏡，提供了從可見(jiàn)光波長(zhǎng)到近紅外的像差校正。對(duì)于高放大倍率的物鏡，配備了LCPLN-IR系列帶校正環(huán)的物鏡，校正由樣品厚度導(dǎo)致的像差。使用一個(gè)物鏡即可獲取清晰的圖像。




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物鏡	放大倍率	NA(數(shù)值孔徑)	WD（mm）	蓋玻片厚度（mm）	硅厚度（mm）	分辨率(um)(孔徑光闌全開(kāi))
LMPLN-IR	5X	0.1	23	0~0.17	_	6.71
	10X	0.3	18	0~0.17	_	2.24
LCPLN-IR （適合FN22，不適合FN26.5）	20X	0.45	8.3	0~1.2	0~1.2	1.49(使用1100mm波長(zhǎng))
	50X	0.65	4.5	0~1.2	0~1.2	1.03(使用1100mm波長(zhǎng))
	100X	0.85	1.2	0~0.07	0~1.0	0.79（使用1100mm波長(zhǎng)）
	無(wú)校正環(huán)物鏡觀察效果			有校正環(huán)物鏡觀察效果




• BX53M偏光觀察

• 詳見(jiàn)BX53P偏光顯微鏡介紹。



顯微鏡機(jī)架


• 兩種顯微鏡機(jī)架可用于反射光；一種還具有透射光觀察能力。同時(shí)配備了一個(gè)適配器，以抬升照明器，適應(yīng)更高的樣品。







物鏡	圖號(hào)	反射光	透射光	樣品高度
BX53MRF-S	1	yes	no	0-65 mm
BX53MTRF-S	2	yes	yes	0-35 mm
BX53MRF-S + BX3M-ARMAD	1、3	yes	no	40-105 mm
BX53MTRF-S + BX3M-ARMAD	2、3	yes	yes	40-75 mm



BXFM系統(tǒng)


• BXFM適合于特殊應(yīng)用，或整合進(jìn)其它儀器中。模塊化結(jié)構(gòu)，再加上各種特殊的小型照明器和固定裝置，使其可以直接用于的環(huán)境和配置。






支架


• 顯微鏡檢查時(shí)如果樣品不適合放在載物臺(tái)上，可以在更大的支架上或其它設(shè)備上安裝照明器和光學(xué)元件。